韩国XRF-2000L金属镀层测厚仪，X射线测厚仪

韩国Micro Pioneer金属镀层膜厚仪
应用:
适用于线路板,五金电镀,电子元器件等行业,用于电镀产品镀层厚度的测量分析和品质控制
产品简介:

一．韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X射线测厚仪（全新原装进口）
XRF2000能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是PCB线路板、五金电镀、连接器端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U) 原子序 22 – 92 。
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1?.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05?.4mm
电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能

电脑系统：IBM相容,17”显示器
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.