供应镀层测厚仪-MAXXI 6

镀层测厚仪MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析，确保产品质量的一致性和高品质。
高分辨率的硅漂移器（SDD）
开槽式超大样品舱设计
8个准直器
USB接口与计算机连接
我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。
镀层测厚仪 MAXXI 6 配备多准直器系统及超大样品舱，针对较薄而复杂的样品，具有完美的解决方案。MAXXI 6 可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。
亮点
采用微聚焦X射线光管，实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低
采用高分辨率的硅漂移探测器（SDD），提供能量级别的最佳效率，极低的检出限（LOD）
多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额，提高测量效率
开槽式超大样品舱设计，十分适合电路板或其他超大平板样品
“USB接口”只需通过USB与计算机连接，无需额外的硬件或软件
德国制造，符合最高工程标准，坚固耐用的设计可实现长期可靠性
通过PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）认证，满足最高辐射安全标准
性能及符合性
最多同时测定5层，15种元素及共存元素的校正
同时实现多于25种元素的定量分析
检测方法通过ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等认证
开槽式大样品台
可编程的XY样品台
样品腔体积：500 ?450 ?170 mm
创新的防撞设计
可编程的样品台
预定位激光技术
最大化的样品台行程范围及速度
自动测量
软件及校准
基于WindowsTM 7操作系统，直观的软件MaxxControl
选择经验校准以实现最大准确性或选择FP无标样模式以轻松实现校准
成分分析：可自由选择元素；厚度测量：可自定义镀层结构
对RoHS和贵金属进行工厂预装校准（可选）